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半導體材料冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品用途：

是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)備的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)及高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

半導體材料冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品型號及技術(shù)參數(shù)：(W×H×D) (mm)

TS-49 內(nèi)箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440

TS-80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440

TS-100 內(nèi)箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

TS-150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

TS-250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

TS-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

溫度范圍：A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃

電 源：∮5W AC38O±10% 50/60HZ

高溫室：預(yù)熱溫度范圍，RT+20℃~200℃

升溫時間：+20℃~+200℃約30min

低溫室：預(yù)冷溫度范圍，RT~-80℃

降溫時間：+20℃~-80℃約80min

實驗室沖擊：溫度均勻度±2.0℃

半導體材料冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品特性:

1．產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進、選材考究。

2．設(shè)備分為高溫室、低溫室、測試室三部分，采獨特之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物完全靜止，應(yīng)用冷熱風路切換方式將冷、熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。

3．采用觸控式液晶（LCD）顯示人機介面專用控制器，先進的計測裝置，操作簡單，學習容易，穩(wěn)定可靠，中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

4．具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定，沖擊時間999小時59大分鐘，循環(huán)周期1～999次可設(shè)定，可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn)，大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行。

5．箱體左側(cè)具?50mm測試孔1個，可供外加電源負載配線測試部件。

半導體材料冷熱沖擊試驗箱控制系統(tǒng):

高溫沖擊3箱：Rt℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN

低溫沖擊3箱：RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN

高溫沖擊2箱：-40℃~ +150℃/5 MIN  -55℃~ +150℃/5 MIN  -65℃~ +150℃/5 MIN

低溫沖擊2箱：+150℃~ --65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN

預(yù)熱時間：25MIN  30MIN  45MIN  40MIN  50MIN  40MIN   50MIN

預(yù)冷時間：60MIN  75MIN  80MIN  85MIN  85MIN  90MIN   100MIN

預(yù)熱溫度：+ 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃

預(yù)冷溫度: - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃

高溫沖擊: + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃

低溫沖擊：-10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃

溫度分布均勻度：±2.00℃ 以內(nèi)（UNDER ±2.00℃）

仿真負載（KG）：2.5  2.5  5  5  5  5   10.0

半導體材料冷熱沖擊試驗箱性能參數(shù)系統(tǒng):

1．采用進口微電腦大型液晶LCD（320 x 240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。

2．高程序記憶容量，可設(shè)定儲存 120 組程序，大循環(huán)設(shè)定 9999 Cycles，每段時間大設(shè)定 999 Hrs 59Mins。

3．具有RS-232通訊界面及連接軟件，可于電腦熒幕上設(shè)計程序、收集測試資料與記錄、呼叫程序執(zhí)行、可實現(xiàn)遠程控制。

4．可獨立設(shè)定高溫、低溫、及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇二槽式或二槽式之功能，具備高低溫試驗箱的功能。

5．可在預(yù)約開機時間控制中自動提前預(yù)熱、預(yù)冷待機，并可選擇起始位置，由高溫或低溫開始循環(huán)或溫度沖擊，另具備設(shè)定循環(huán)次數(shù)擴自動除霜功能。

6．出風口與回風口傳感器檢知控制，風向柵門機構(gòu)切換時間為10s內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5min鐘內(nèi)完成。

7．具有溫度線懷直流信號輸出到溫度記錄器，以了解測試條件之狀態(tài)，進而提高檢測信賴度。

8．運轉(zhuǎn)中發(fā)行異常狀況，熒幕上即刻自動顯示故障原因及提供排除方法，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)時，具有緊急停機裝置。

9．冷凍系統(tǒng)采用二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，采用歐美進口壓縮機組，并使用環(huán)保冷媒。

半導體材料冷熱沖擊試驗箱符合標準:

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式

滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則

GB/T 2423.22-2002溫度變化

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估

GB/T2423.1-2001低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001高溫試驗方法

半導體材料冷熱沖擊試驗箱售后服務(wù):

1．售前服務(wù)：產(chǎn)品銷售前為客戶免費提供產(chǎn)品技術(shù)方案，并可根據(jù)客戶要求提供現(xiàn)場講解和技術(shù)咨詢服務(wù)。

2．售后服務(wù)：產(chǎn)品銷售后派出人員為客戶免費提供產(chǎn)品使用培訓，現(xiàn)場指導產(chǎn)品的使用和維護。

3．質(zhì)量保證：該產(chǎn)品進行三包，質(zhì)保期為驗收之日起壹年，在保質(zhì)期內(nèi)產(chǎn)品發(fā)生非人為質(zhì)量問題，艾思荔公司為客戶提供免費維修。

4．維修服務(wù)：我公司對所用產(chǎn)品提供終生維修服務(wù)。如產(chǎn)品在質(zhì)保期外出現(xiàn)故障，維修服務(wù)只收取元器件費用。

5．服務(wù)迅捷：我公司承諾客戶服務(wù)熱線在接到客戶咨詢或維修等信息后4小時內(nèi)做出回應(yīng)；維修服務(wù)在做出回應(yīng)后8小時內(nèi)安排人員到達現(xiàn)場。